產品標題：HAST非飽和高壓加速老化試驗箱
產品分類： PCT加速老化箱
HAST非飽和高壓加速老化試驗箱(0769-22851841)待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體.廣泛應用于EVA膠,TPT膜,光伏玻璃,PCB線路板,多層線路板,IC半導體,LCD光器件,電子組件,塑封器件/材料,磁鐵/磁性材料
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一、HAST非飽和高壓加速老化試驗箱特點：
◆HAST非飽和高壓加速老化試驗箱真空泵浦設計(鍋爐內空氣抽出)提高壓力穩定性、再現性
◆超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉300小時
◆tank干燥設計，試驗終止采真空干燥設計確保測試區(待測品)的干燥
◆水位保護，透過爐內水位Sensor檢知保護
◆tank耐壓設計，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測試6k
◆二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置
◆安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕
二、HAST非飽和高壓加速老化試驗箱性能：操作環境需在室溫30℃以下且通風良好之條件下進行.
1.溫度范圍:110℃/132℃.(飽和蒸氣溫度).
2.濕度范圍:100%RH.(飽和蒸氣濕度).
3.壓力范圍:0.5Kg/cm2～2.0Kg/cm2控制點壓力(安全壓力容量3.5Kg/cm2).
4.時間范圍:0~999小時可調.
5.溫度分布:(+/-)2.0℃.
6.升溫時間:RT~132℃約35分鐘內.（控制點溫度）
7.加壓時間:0.0Kg/cm2~2.0Kg/cm2約40分鐘內（控制點壓力）。
三、HAST非飽和高壓加速老化試驗箱控制系統：
1.微電腦飽和蒸氣溫度+時間+壓力顯示獨立控制器.
2.本系統符合高壓加速老化之可靠度試驗規格:CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、NACE、UL、MIL…
3.控制對象:微電腦+P.I.D.+S.S.R自動演算控制飽和蒸氣溫度.
4.控制方式:微電腦PID控制.
5.控制精度:(+/-)0.5℃.
6.解析精度:0.1℃.
四、HAST非飽和高壓加速老化試驗箱循環方式：飽和水蒸氣自然對流循環方式.
五、溫度感應器：（RTD）PT-100Ω(鉑金電阻).
六、加溫電熱器：絕緣耐壓型溫度電熱器.
七、高壓加速老化機機械結構:
1.圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準,可予防試驗中結露滴水現象.
2.圓幅內膽,不銹鋼圓弧型內膽設計,可避免蒸氣過熱直接沖擊.
3.精密設計,氣密性良好,耗水量少。
4.專利型packing,內箱壓力愈大時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式完全不同,可延長packing壽命.
6.實驗開始前之真空動作可將原來內箱之空氣抽出，并吸入過濾器,過濾之新空氣packing＜1micom.以確保箱內之純凈度.
7.臨界點LIMIT方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示.
8.機臺具有定時干燥功能,使試驗產品處于干燥狀態.
9.獨家采用自動補水功能；試驗不終斷;試驗結束時設備會自動瀉除壓力.
八、HAST非飽和高壓加速老化試驗箱概要：
HAST非飽和高壓加速老化試驗箱又名PCT主要作用是用來測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體.廣泛應用于EVA膠,TPT膜,光伏玻璃,PCB線路板,多層線路板,IC半導體,LCD光器件,電子組件,塑封器件/材料,磁鐵/磁性材料等密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性,失重試驗,飽和穩態濕熱試驗,加速老化篩選試驗,光伏組件可靠性和壽命高加速試驗。
◆HAST非飽和高壓加速老化試驗箱真空泵浦設計(鍋爐內空氣抽出)提高壓力穩定性、再現性
◆超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉300小時
◆tank干燥設計，試驗終止采真空干燥設計確保測試區(待測品)的干燥
◆水位保護，透過爐內水位Sensor檢知保護
◆tank耐壓設計，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測試6k
◆二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置
◆安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕
二、HAST非飽和高壓加速老化試驗箱性能：操作環境需在室溫30℃以下且通風良好之條件下進行.
1.溫度范圍:110℃/132℃.(飽和蒸氣溫度).
2.濕度范圍:100%RH.(飽和蒸氣濕度).
3.壓力范圍:0.5Kg/cm2～2.0Kg/cm2控制點壓力(安全壓力容量3.5Kg/cm2).
4.時間范圍:0~999小時可調.
5.溫度分布:(+/-)2.0℃.
6.升溫時間:RT~132℃約35分鐘內.（控制點溫度）
7.加壓時間:0.0Kg/cm2~2.0Kg/cm2約40分鐘內（控制點壓力）。
三、HAST非飽和高壓加速老化試驗箱控制系統：
1.微電腦飽和蒸氣溫度+時間+壓力顯示獨立控制器.
2.本系統符合高壓加速老化之可靠度試驗規格:CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、NACE、UL、MIL…
3.控制對象:微電腦+P.I.D.+S.S.R自動演算控制飽和蒸氣溫度.
4.控制方式:微電腦PID控制.
5.控制精度:(+/-)0.5℃.
6.解析精度:0.1℃.
四、HAST非飽和高壓加速老化試驗箱循環方式：飽和水蒸氣自然對流循環方式.
五、溫度感應器：（RTD）PT-100Ω(鉑金電阻).
六、加溫電熱器：絕緣耐壓型溫度電熱器.
七、高壓加速老化機機械結構:
1.圓型內箱,不銹鋼圓型試驗內箱結構,符合工業安全容器標準,可予防試驗中結露滴水現象.
2.圓幅內膽,不銹鋼圓弧型內膽設計,可避免蒸氣過熱直接沖擊.
3.精密設計,氣密性良好,耗水量少。
4.專利型packing,內箱壓力愈大時,packing會有反壓會使其與箱體更緊密結合,與傳統擠壓式完全不同,可延長packing壽命.
6.實驗開始前之真空動作可將原來內箱之空氣抽出，并吸入過濾器,過濾之新空氣packing＜1micom.以確保箱內之純凈度.
7.臨界點LIMIT方式自動安全保護,異常原因與故障指示燈顯示.
8.機臺具有定時干燥功能,使試驗產品處于干燥狀態.
9.獨家采用自動補水功能；試驗不終斷;試驗結束時設備會自動瀉除壓力.
八、HAST非飽和高壓加速老化試驗箱概要：
HAST非飽和高壓加速老化試驗箱又名PCT主要作用是用來測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體.廣泛應用于EVA膠,TPT膜,光伏玻璃,PCB線路板,多層線路板,IC半導體,LCD光器件,電子組件,塑封器件/材料,磁鐵/磁性材料等密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性,失重試驗,飽和穩態濕熱試驗,加速老化篩選試驗,光伏組件可靠性和壽命高加速試驗。
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