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高低溫試驗箱
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高溫高濕高壓老化試驗箱新開發

文章出處:www.mo-gu-ra.com編輯:admin作者:艾思荔人氣:發表時間:2018-01-04 09:52【
   高溫高濕高壓老化試驗箱又名壓力蒸煮鍋試驗(PCT)結構試驗箱由一個壓力容器組成,壓力容器包括一個能産生100%(潤濕)環境的水加熱器,待測品經過PCT試驗所出現的不同失效可能是大量水氣凝結滲透所造成的。  
   澡盆曲線:澡盆曲線(Bathtubcurve、失效時期),又用稱為浴缸曲線、微笑曲線,主要是顯示產品的于不同時期的失效率,主要包含早夭期(早期失效期)、正常期(隨機失效期)、損耗期(退化失效期),以環境試驗的可靠度試驗箱來說得話,可以分爲篩選試驗、加速壽命試驗(耐久性試驗)及失效率試驗等。進行可靠性試驗時"試驗設計"、"試驗執行"及"試驗分析"應作爲一個整體來綜合考慮。  
   說明:PCT高溫高濕高壓老化試驗箱一般稱為壓力鍋蒸煮試驗或是飽和蒸汽試驗,最主要是將待測品置于嚴苛之溫度、飽和濕度(100%R.H.)[飽和水蒸氣]及壓力環境下測試,測試代測品耐高濕能力,針對印刷線路板(PCB&FPC),用來進行材料吸濕率試驗、高壓蒸煮試驗..等試驗目的,如果待測品是半導體的話,則用來測試半導體封裝之抗濕氣能力,待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試,如果半導體封裝的不好,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之介面滲入封裝體之中,常見的故裝原因:爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路..等相關問題。


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