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    產品標題:半導體芯片冷熱沖擊試驗箱

    產品分類: 冷熱沖擊試驗箱
    半導體 芯片 冷熱 沖擊 試驗箱 的用途: 半導體芯片冷熱沖擊試驗箱壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸模擬各種環境狀態,試驗各種產品及原材料耐熱、耐潮濕、耐干、耐低溫的性能。適用于造紙、印刷、電子、電器、金屬等各行業。 半導體芯片冷熱沖擊試驗箱 的型號規格
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    半導體芯片冷熱沖擊試驗箱的用途:
        半導體芯片冷熱沖擊試驗箱 壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 模擬各種環境狀態,試驗各種產品及原材料耐熱、耐潮濕、耐干、耐低溫的性能。適用于造紙、印刷、電子、電器、金屬等各行業。
    半導體芯片冷熱沖擊試驗箱的型號規格:

    型號 TS-80A TS-80B TS-80C
    溫度范圍 25-150℃ 0-150℃ -20-150℃
    濕度范圍 20%-98% R.H
    內箱尺寸 W40×H50×D40cm
    外箱尺寸 W100×H80×D105cm
    電源 AC220V ;1∮
    半導體芯片冷熱沖擊試驗箱
    半導體芯片冷熱沖擊試驗箱
    技術參數
    溫度上限:+100℃/+150℃/+200℃
    溫度下限:0℃、-10℃、-20℃、-30℃、-40℃、-50℃、-60℃、-70℃、-80℃
    溫度波動度:±0.5℃
    溫度均勻度:≤2.0℃
    溫度偏差:±2℃
    濕度范圍:20~98%RH
    濕度偏差:+2/-3%RH
    升溫時間:35min(20℃~100℃)
    降溫時間:25min(20℃~0℃)、40min(20℃~-20℃)60min(20℃~-40℃)、90min (20℃~ -70℃)
    半導體芯片冷熱沖擊試驗箱特 性:
    體積小,使用空間大、適合實驗使用。
    特殊設計,機器可重迭,不占空間。
    可擴充性強,BIAS,記錄器(選購)。
    特殊送風循環設計、溫濕度分布均勻性佳。
    全系統之安全保護周全及停電記憶。
    具備時序接點,可配合動能及量測試驗。
    廣東艾思荔半導體芯片冷熱沖擊試驗箱生產廠家用事實說話,做到比說到更重要,專業值得信賴!如果在實際運用中有什么問題可以來電咨詢,我們將竭誠為您服務!

    半導體芯片冷熱沖擊試驗箱
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